| 商标名称 | 天宇测绘 | 注册号/申请号 | 11248734 |
| 国际分类号 | 9 | 申请日期 | 2012-07-24 00:00:00.0 |
| 申请人名称(中文) | 武汉天宇光电仪器有限公司 查看TA所有商标 | 申请人地址(中文) | 湖北省武汉市洪山区北港工业园文秀街8号 |
| 申请人名称(英文) | 申请人地址(英文) | ||
| 商标图像 |
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| 类似群 | 0905|0911 | 商品服务列表 | 量具 |
| 初审公告期号 | 1376 | 注册公告期号 | |
| 初审公告日期 | 注册公告日期 | ||
| 专用权期限 | - | ||
| 后期指定日期 | 国际注册日期 | ||
| 优先权日期 | - | 代理人名称 | 武汉中企联合知识产权代理有限公司 |
| 指定颜色 | 否 | 商标类型 | |
| 是否共有商标 | - | 备注 | 驳回复审完成 |
| 商标流程 |
1、2012-07-24 商标注册申请中 2、2013-06-13 打印驳回或部分驳回通知书 3、2014-03-27 注册申请初步审定 4、2013-07-12 驳回复审中 5、2013-07-12 收到驳回复审申请或补充材料,待审 6、2013-07-12 驳回复审待审中 7、2014-03-25 驳回复审完成 |
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