商标名称 图形 注册号/申请号 3179375
国际分类号 9 申请日期 2002-05-20 00:00:00.0
申请人名称(中文) 武汉理工光科股份有限公司  查看TA所有商标 申请人地址(中文) 湖北省武汉市东湖开发区武汉理工大学科技园
申请人名称(英文) 申请人地址(英文)
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类似群 0901|0910 商品服务列表 测高计;测距计;测压仪器;分度仪(测量仪器);高温仪;密度计;恒温器;计算机;计算机周边设备;笔记本电脑
初审公告期号 878 注册公告期号 890
初审公告日期 2003-05-07 注册公告日期 2003-08-07
专用权期限 2003-08-28至2023-08-06
后期指定日期 国际注册日期
优先权日期 - 代理人名称 湖北华中商标事务所有限公司
指定颜色 商标类型
是否共有商标 - 备注 开具注册证明完成
商标流程

1、2002-05-20  商标注册申请中

2、2003-03-17  注册申请初步审定

3、2003-08-28  商标已注册

4、2003-09-16  变更商标申请人/注册人名义/地址中

5、2003-09-16  商标变更待审中

6、2004-04-23  商标变更完成

7、2013-07-01  变更商标申请人/注册人名义/地址中

8、2013-07-01  商标变更待审中

9、2013-08-28  商标变更完成

10、2013-03-25  商标续展中

11、2013-03-25  商标续展待审中

12、2013-10-28  商标续展完成

13、2014-02-10  出具商标注册证明中

14、2014-02-10  开具注册证明待审中

15、2014-03-27  开具注册证明完成

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