| 商标名称 | KIS | 注册号/申请号 | 11782645 |
| 国际分类号 | 9 | 申请日期 | 2012-11-22 00:00:00.0 |
| 申请人名称(中文) | 北京优纳科技有限公司 查看TA所有商标 | 申请人地址(中文) | 北京市海淀区上地五街7号四层402室 |
| 申请人名称(英文) | 申请人地址(英文) | ||
| 商标图像 |
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| 类似群 | 0910|0911 | 商品服务列表 | 光学全自动印刷电路板检测设备；晶圆缺陷检测设备(光学检测设备)；半导体检测设备；印刷电路板检测设备；平板电子产品自动光学检测设备；集成电路板自动光学检测设备 |
| 初审公告期号 | 1394 | 注册公告期号 | 1406 |
| 初审公告日期 | 2014-02-06 | 注册公告日期 | |
| 专用权期限 | - | ||
| 后期指定日期 | 国际注册日期 | ||
| 优先权日期 | - | 代理人名称 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 |
| 指定颜色 | 否 | 商标类型 | |
| 是否共有商标 | - | 备注 | 商标注册申请完成 |
| 商标流程 | |||