| 商标名称 | XVIEW | 注册号/申请号 | 12188517 |
| 国际分类号 | 9 | 申请日期 | 2013-02-22 00:00:00.0 |
| 申请人名称(中文) | 北京地太科特电子技术有限公司 查看TA所有商标 | 申请人地址(中文) | 北京市朝阳区利泽中园103号楼4层 |
| 申请人名称(英文) | 申请人地址(英文) | ||
| 商标图像 |
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| 类似群 | 0901|0902|0907|0910|0911|0913|0918 | 商品服务列表 | 探测器；假币检测器；光学器械和仪器；工业用放射设备；材料检验仪器和机器 |
| 初审公告期号 | 1406 | 注册公告期号 | |
| 初审公告日期 | 注册公告日期 | ||
| 专用权期限 | - | ||
| 后期指定日期 | 国际注册日期 | ||
| 优先权日期 | - | 代理人名称 | 北京修典知识产权代理有限公司 |
| 指定颜色 | 否 | 商标类型 | |
| 是否共有商标 | - | 备注 | 注册申请初步审定 |
| 商标流程 |
1、2013-02-22 商标注册申请中 2、2014-01-06 打印驳回或部分驳回通知书 3、2014-03-04 注册申请部分驳回 4、2014-03-14 注册申请部分驳回 5、2014-03-27 注册申请初步审定 |
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