| 商标名称 | 天宇测绘 TIANYU | 注册号/申请号 | 11248745 |
| 国际分类号 | 9 | 申请日期 | 2012-07-24 00:00:00.0 |
| 申请人名称(中文) | 武汉天宇光电仪器有限公司 查看TA所有商标 | 申请人地址(中文) | 湖北省武汉市洪山区北港工业园文秀街8号 |
| 申请人名称(英文) | 申请人地址(英文) | ||
| 商标图像 |
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| 类似群 | 0905|0911 | 商品服务列表 | 光学镜头;光学品;光学器械和仪器;光学玻璃;望远镜;量具; |
| 初审公告期号 | 注册公告期号 | ||
| 初审公告日期 | 注册公告日期 | ||
| 专用权期限 | - | ||
| 后期指定日期 | 国际注册日期 | ||
| 优先权日期 | - | 代理人名称 | 武汉中企联合知识产权代理有限公司 |
| 指定颜色 | 否 | 商标类型 | |
| 是否共有商标 | - | 备注 | 驳回复审完成 |
| 商标流程 | |||