| 商标名称 | MPI | 注册号/申请号 | 6591605 |
| 国际分类号 | 9 | 申请日期 | 2008-03-12 00:00:00.0 |
| 申请人名称(中文) | 旺矽科技股份有限公司 查看TA所有商标 | 申请人地址(中文) | 中国台湾新竹县竹北市中和街155号1之3楼 |
| 申请人名称(英文) | MJC PROBE INCORPORATION | 申请人地址(英文) | |
| 商标图像 |
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| 类似群 | 0910 | 商品服务列表 | 检验半导体用探针板；检验液晶配电板用探针板；晶圆探测板；探针板检验装置；半导体电气特性检验装置；液晶配电板检验装置；集成电路测定用测量装置；液晶配电板测定用测量装置 |
| 初审公告期号 | 1205 | 注册公告期号 | 1217 |
| 初审公告日期 | 2010-02-27 | 注册公告日期 | 2010-05-28 |
| 专用权期限 | 2010-06-21至2020-05-27 | ||
| 后期指定日期 | 国际注册日期 | ||
| 优先权日期 | - | 代理人名称 | 隆天国际知识产权代理有限公司 |
| 指定颜色 | 否 | 商标类型 | |
| 是否共有商标 | - | 备注 | 变更商标申请人/注册人名义/地址完成 |
| 商标流程 |
1、2008-03-12 商标注册申请中 2、2009-12-11 注册申请初步审定 3、2010-06-21 商标已注册 4、2014-09-10 变更商标申请人/注册人名义/地址中 5、2015-09-16 变更商标申请人/注册人名义/地址完成 |
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