| 商标名称 | 上勘院 | 注册号/申请号 | 3997772 |
| 国际分类号 | 42 | 申请日期 | 2004-04-05 00:00:00.0 |
| 申请人名称(中文) | 上海岩土工程勘察设计研究院有限公司 查看TA所有商标 | 申请人地址(中文) | 上海市崇明工业园区秀山路258号 |
| 申请人名称(英文) | 申请人地址(英文) | ||
| 商标图像 |
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| 类似群 | 4210 | 商品服务列表 | 地质调查；地质勘测；土地测量；地质勘探；地质研究；校准(测量)；水下勘探；测量 |
| 初审公告期号 | 1045 | 注册公告期号 | 1057 |
| 初审公告日期 | 2006-10-28 | 注册公告日期 | 2007-01-28 |
| 专用权期限 | 2007-02-25至2017-01-27 | ||
| 后期指定日期 | 国际注册日期 | ||
| 优先权日期 | - | 代理人名称 | 上海长安商标事务所有限公司 |
| 指定颜色 | 是 | 商标类型 | |
| 是否共有商标 | - | 备注 | 商标已注册 |
| 商标流程 | |||